Page 420 - Schut Catalog

MICROSCOPEN Schut voor Precisie

Peak sjabloonmicroscopen 20x ... 200x Type 2034

Deze sjabloonmicroscopen zijn verkrijgbaar in vijf uit­
voeringen. Alle vijf zijn compact en hebben een gering
gewicht, maar ze worden vooral gekarakteriseerd door hun
grote gezichtsveld. Ze worden geleverd in een etui, inclusief
LED-verlichting, bijbehorende standaardsjabloon
en objectief. De microscopen zijn voorzien van een
Huygens oculair (vergroting 10x) en een afneembare
rubberen oogschelp. Geschikt voor diverse toepassingen
met hoge precisie.
Type 2034

Hoogtes kunnen worden gemeten met een resolutie
van 0,1 mm d.m.v. de op de focusring aangebrachte
schaalverdeling (schaalgebied 10 mm).
 Scherpstelling m.b.v. helicoil moer.
 Afmetingen: ø 63 x 172 mm.
 Gewicht (excl. batterijen): 237 - 241 g.
 Voeding: 2 batterijen type AAA.

Art. Nr. Vergroting Gezichtsveld Werkafstand Meetgebied Aflezing Prijs
ø/mm mm mm mm EUR
905.320 20x
905.330 40x 7,2 36 6 0,1 264,00
905.340 60x 3,6 0,05 264,00
905.350 100x 2,4 18,7 3 0,02 285,00
905.355 150x 1,45 0,01 285,00
905.370 200x 0,96 10,8 2 0,005 345,00
0,72 0,002 409,00
Opties: 5,7 1,2
497.914 0,80
905.179 9,2 0,9 14,60

6,7 0,6

Reservebatterij type AAA (2 nodig)
LED-penlight

Peak losse sjablonen Art. Nr. Vergroting Sjabloon Prijs
microscoop EUR
Het in het oculair geschroefde sjabloon kan wor­
den verwisseld, bijvoorbeeld als de vergroting van Standaardsjablonen: 37,40
de microscoop verandert (zie “Losse objectieven”). 905.321 20x nr. 54 37,40
Ook is een extra oculair (zonder sjabloon en rub­be­ 905.331 40x nr. 64 37,40
ren oogschelp) verkrijgbaar, zodat bij het wisselen 905.341 60x nr. 74 37,40
van het sjabloon niet telkens het oculair open­ 905.351 100x nr. 84 37,40
geschroefd hoeft te worden. nr. 94 37,40
nr. 104 47,00
905.356 150x nr. 114
905.337 200x
905.388 300x

Voor drukwerk- en gereedschappencontrole:
905.325 20x nr. 55 37,40
905.335 40x nr. 65 37,40
C13.213.NL.20240626
905.321 905.325 904.042 Los oculair 10x 56,00

© 2024, Schut Geometrische Meettechniek bv 420 Meetinstrumenten en -systemen 2023/2024